Non-reactive metal/semiconductor interfaces: a combined AES, AFM andPAC study

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Revista:
Hyperfine Interactions

ISSN: 0304-3834,  1572-9540

Año de publicación: 1993

Volumen: 78

Número: 1-4

Páginas: 295-301

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/BF00568151 GOOGLE SCHOLAR
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