Non-reactive metal/semiconductor interfaces: a combined AES, AFM andPAC study

  1. Krausch, G.
  2. Colchero, J.
  3. Detzel, T.
  4. Fink, R.
  5. Luckscheiter, B.
  6. Wöhrmann, U.
  7. Schatz, G.
Aldizkaria:
Hyperfine Interactions

ISSN: 0304-3834,  1572-9540

Argitalpen urtea: 1993

Alea: 78

Zenbakia: 1-4

Orrialdeak: 295-301

Mota: Artikulua

DOI: 10.1007/BF00568151 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus