Non-reactive metal/semiconductor interfaces: a combined AES, AFM andPAC study

  1. Krausch, G.
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  3. Detzel, T.
  4. Fink, R.
  5. Luckscheiter, B.
  6. Wöhrmann, U.
  7. Schatz, G.
Zeitschrift:
Hyperfine Interactions

ISSN: 0304-3834,  1572-9540

Datum der Publikation: 1993

Ausgabe: 78

Nummer: 1-4

Seiten: 295-301

Art: Artikel

DOI: 10.1007/BF00568151 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus