A method to simulate the optical image from far-field scattering numerical data and its application to the total internal reflection microscopy of metallic nanowires

  1. Iglesias, I.
  2. Muñoz, J.
  3. Colchero, J.
Revista:
Journal of Microscopy

ISSN: 1365-2818,  0022-2720

Año de publicación: 2019

Volumen: 276

Número: 1

Páginas: 21-26

Tipo: Artículo

DOI: 10.1111/JMI.12830 GOOGLE SCHOLAR
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