A method to simulate the optical image from far-field scattering numerical data and its application to the total internal reflection microscopy of metallic nanowires
- Iglesias, I.
- Muñoz, J.
- Colchero, J.
ISSN: 1365-2818, 0022-2720
Año de publicación: 2019
Volumen: 276
Número: 1
Páginas: 21-26
Tipo: Artículo