Contrast inversion in non-contact Dynamic Scanning Force Microscopy: What is high and what is low?

  1. Palacios-Lidón, E.
  2. Munuera, C.
  3. Ocal, C.
  4. Colchero, J.
Aldizkaria:
Ultramicroscopy

ISSN: 0304-3991

Argitalpen urtea: 2010

Alea: 110

Zenbakia: 7

Orrialdeak: 789-800

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2010.01.015 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus