Contrast inversion in non-contact Dynamic Scanning Force Microscopy: What is high and what is low?

  1. Palacios-Lidón, E.
  2. Munuera, C.
  3. Ocal, C.
  4. Colchero, J.
Revista:
Ultramicroscopy

ISSN: 0304-3991

Any de publicació: 2010

Volum: 110

Número: 7

Pàgines: 789-800

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2010.01.015 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus