Contrast inversion in non-contact Dynamic Scanning Force Microscopy: What is high and what is low?

  1. Palacios-Lidón, E.
  2. Munuera, C.
  3. Ocal, C.
  4. Colchero, J.
Revista:
Ultramicroscopy

ISSN: 0304-3991

Año de publicación: 2010

Volumen: 110

Número: 7

Páginas: 789-800

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2010.01.015 GOOGLE SCHOLAR

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