XPS analysis of the activation process in non-evaporable getter thin films

  1. Lozano, M.P.
  2. Fraxedas, J.
Revista:
Surface and Interface Analysis

ISSN: 0142-2421

Any de publicació: 2000

Volum: 30

Número: 1

Pàgines: 623-627

Tipus: Article

DOI: 10.1002/1096-9918(200008)30:1<623::AID-SIA719>3.0.CO;2-Y GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus