Phase-only mask for superoscillatory enhanced resolution in confocal microscopy

  1. Iglesias, I.
  2. Filiu, J.M.
Revista:
Optics Express

ISSN: 1094-4087

Ano de publicación: 2024

Volume: 32

Número: 20

Páxinas: 35395-35405

Tipo: Artigo

DOI: 10.1364/OE.534097 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor
Fonte de datos: Scopus