Phase-only mask for superoscillatory enhanced resolution in confocal microscopy

  1. Iglesias, I.
  2. Filiu, J.M.
Revista:
Optics Express

ISSN: 1094-4087

Año de publicación: 2024

Volumen: 32

Número: 20

Páginas: 35395-35405

Tipo: Artículo

DOI: 10.1364/OE.534097 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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