Phase-only mask for superoscillatory enhanced resolution in confocal microscopy

  1. Iglesias, I.
  2. Filiu, J.M.
Aldizkaria:
Optics Express

ISSN: 1094-4087

Argitalpen urtea: 2024

Alea: 32

Zenbakia: 20

Orrialdeak: 35395-35405

Mota: Artikulua

DOI: 10.1364/OE.534097 GOOGLE SCHOLAR lock_openSarbide irekia editor
Datuen iturria: Scopus