Exploring surface charge dynamics: implications for AFM height measurements in 2D materials

  1. Navarro-Rodriguez, M.
  2. Somoza, A.M.
  3. Palacios-Lidon, E.
Revista:
Beilstein Journal of Nanotechnology

ISSN: 2190-4286

Año de publicación: 2024

Volumen: 15

Páginas: 767-780

Tipo: Artículo

DOI: 10.3762/BJNANO.15.64 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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