Exploring surface charge dynamics: implications for AFM height measurements in 2D materials

  1. Navarro-Rodriguez, M.
  2. Somoza, A.M.
  3. Palacios-Lidon, E.
Revista:
Beilstein Journal of Nanotechnology

ISSN: 2190-4286

Any de publicació: 2024

Volum: 15

Pàgines: 767-780

Tipus: Article

DOI: 10.3762/BJNANO.15.64 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor