An analytical model for the calculation of the Expected Miss Ratio in faulty caches

  1. Sánchez, D.
  2. Sazeides, Y.
  3. Aragón, J.L.
  4. García, J.M.
Actas:
Proceedings of the 2011 IEEE 17th International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2011

ISBN: 9781457710551

Año de publicación: 2011

Páginas: 252-257

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/IOLTS.2011.5994538 GOOGLE SCHOLAR
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