Nanogoniometry with scanning force microscopy: A model study of CdTe thin films
- Palacios-Lidón, E.
- Guanter, L.
- Zúñiga-Pérez, J.
- Muñoz-Sanjosé, V.
- Colchero, J.
ISSN: 1613-6810, 1613-6829
Año de publicación: 2007
Volumen: 3
Número: 3
Páginas: 474-480
Tipo: Artículo