Semi- and Self-Supervised Metric Learning for Remote Sensing Applications

  1. Hernandez-Sequeira, I.
  2. Fernandez-Beltran, R.
  3. Pla, F.
Revista:
IEEE Geoscience and Remote Sensing Letters

ISSN: 1558-0571,  1545-598X

Año de publicación: 2024

Volumen: 21

Páginas: 1-5

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/LGRS.2024.3381228 GOOGLE SCHOLAR
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