In situ characterization of nanoscale contaminations adsorbed in air using atomic force microscopy

  1. Lacasa, J.S.
  2. Almonte, L.
  3. Colchero, J.
Aldizkaria:
Beilstein Journal of Nanotechnology

ISSN: 2190-4286

Argitalpen urtea: 2018

Alea: 9

Zenbakia: 1

Orrialdeak: 2925-2935

Mota: Artikulua

DOI: 10.3762/BJNANO.9.271 GOOGLE SCHOLAR lock_openSarbide irekia editor
Datuen iturria: Scopus