Localized charge imaging with scanning Kelvin probe microscopy

  1. Orihuela, M.F.
  2. Somoza, A.M.
  3. Colchero, J.
  4. Ortuño, M.
  5. Palacios-Lidón, E.
Revista:
Nanotechnology

ISSN: 1361-6528,  0957-4484

Año de publicación: 2017

Volumen: 28

Número: 2

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/1361-6528/28/2/025703 GOOGLE SCHOLAR
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