Localized charges in thin films by Kelvin probe force microscopy: From single to multiple charges

  1. Somoza, A.M.
  2. Palacios-Lidón, E.
Zeitschrift:
Physical Review B

ISSN: 2469-9969,  2469-9950

Datum der Publikation: 2020

Ausgabe: 101

Nummer: 7

Art: Artikel

DOI: 10.1103/PHYSREVB.101.075432 GOOGLE SCHOLAR
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